Patente
Rößner, M.R.; Graf, M.A.; Jakobi, M.; Koch, A.W.; Weraneck, K.:
Optische Messung von Kräften und Drehmomenten in Getrieben und Motoren mittels Fabry-Perot-Kavität.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2016 012 272 A1,
Anmeldedatum: 14.10.2016,
Veröffentlichungsdatum: 19.04.2018.
Rößner, M.R.; Graf, M.A.; Jakobi, M.; Koch, A.W.; Weraneck, K.:
Optische Messung von Kräften und Drehmomenten in Getrieben.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2016 012 272.2,
Anmeldedatum: 14.10.2016.
Buck, T.C.; Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Koch, A.W.:
Vorrichtung zum Umsetzen eines optischen Eingangssignals in ein elektrisches Ausgangssignal und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung.
Deutsches Patent DE 10 2009 014 478 B4,
Anmeldedatum: 23.03.2009,
Veröffentlichungsdatum: 30.09.2010,
Tag der Patenterteilung: 18.07.2013.
Koch, A.W.; Salazar, F.; Werth, N.:
Rauheits-Messvorrichtung und -Messverfahren.
Deutsches Patent DE 10 2010 037 207 B3,
Tag der Anmeldung: 27.08.2010.
Tag der Patenterteilung: 03.11.2011.
Buck, T.C.; Müller, M.S.; Koch, A.W.:
Optisches Tiefpassfilter und Verfahren zum Optischen Filtern.
Deutsches Patent DE 10 2009 041 507 A1,
Anmeldedatum: 14.09.2009,
Veröffentlichungsdatum: 31.03.2011.
Müller, M.S.; Koch, A.W.:
Elektrophorese-Messvorrichtung und Messverfahren.
Deutsches Patent DE 10 2009 033 426 A1,
Anmeldedatum: 16.07.2009,
Veröffentlichungsdatum: 03.02.2011.
Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Lautenschlager, T.; Koch, A.W.:
Force-Moment Sensor.
US-Offenlegungsschrift Nr. US 2010/0272384 A1,
Anmeldedatum: 05.05.2010,
Veröffentlichungsdatum: 28.10.2010.
Hoffmann, L.; Koch, A.W.; Müller, M.S.:
Faseroptische Messvorrichtung und Messverfahren.
Deutsches Patent DE 10 2009 013 795 A1,
Anmeldedatum: 18.03.2009,
Veröffentlichungsdatum: 23.09.2010.
Endisch, P.; Kirchensteiner, E.; Koch, A.W.:
Anordnung, Verfahren und Sensor zur Erfassung von Flüssigkeitsparametern.
Deutsches Patent DE 10 2008 019 500 B4,
Anmeldedatum: 17.04.2008,
Veröffentlichungsdatum: 16.04.2009,
Tag der Patenterteilung: 02.06.2010.
Müller, M.S.; Wiesent, B.R.; Hoffmann, L.; Koch, A.W.:
Faseroptischer Drehwinkelsensor.
Deutsches Patent DE 10 2008 035 996 A1,
Anmeldedatum: 01.08.2008,
Veröffentlichungsdatum: 04.02.2010.
Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Lautenschlager, T.; Koch, A.W.:
Kraft-Momenten-Sensor.
Internationales Patent WO 2009/059754 A1, PCT/EP 2008/009318,
Anmeldedatum: 05.11.2008,
Veröffentlichungsdatum: 14.05.2009.
Endisch, P.; Kirchensteiner, E.; Koch, A.W.:
Anordnung, Verfahren und Sensor zur Erfassung von Flüssigkeitsparametern.
Internationales Patent WO 2009/039920 A1, PCT/EP 2008/006741,
Anmeldedatum: 16.08.2008,
Veröffentlichungsdatum: 02.04.2009.
Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Koch, A.W.:
Faseroptische Messvorrichtung und Messverfahren.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2009 013 795.5,
Anmeldedatum: 18.03.2009.
Müller, M.S.; Wiesent, B.R.; Hoffmann, L.; Koch, A.W.:
Faseroptischer Drehwinkelsensor.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2008 035 996.3,
Anmeldedatum: 01.08.2008.
Müller, M.S.; Hoffmann, L.; Koch, A.W.; Lautenschlager, T.:
Kraft-Momenten-Sensor.
Patentanmeldung EP07021502,
Anmeldedatum: 05.11.2007.
Endisch, P.; Kirchensteiner, E.; Koch, A.W.:
Anordnung, Verfahren und Sensor zur Erfassung von Flüssigkeitsparametern.
Deutsche Patentanmeldung DE 10 2007 045 115.8,
Anmeldedatum: 20.09.2007.
Evanschitzky, P.; Koch, A.W.; Riemenschneider, M.; Zeh, T.:
Verfahren zum Bestimmen einer Struktur einer Oberfläche eines Messobjektes und Messvorrichtung.
Deutsches Patent DE 00 00 10 122 068 A1,
Anmeldedatum: 07.05.2001,
Veröffentlichungsdatum: 14.11.2002.
A.W. Koch:
Vorrichtung zur optischen Erfassung von Neigungswinkeln und Beschleunigungen.
Gebrauchsmuster No. G 298 05 779, 24.09.1998.
A.W. Koch; O. Toedter:
Messvorrichtung zum Messen von Transversalgeschwindigkeit und Länge eines Messobjekts.
Patent No. DE 195 11 990, 11.09.1997.
A.W. Koch:
Verfahren und Vorrichtung zur optischen Dünnschicht-Biosensorik.
Patent No. DE 196 46 770, 13.11.1996.
A.W. Koch; J. Bottler; J.-U. Meyer; M. Ruprecht:
Vorrichtung zur kohärenten Einstrahlinterferometrie.
Gebrauchsmuster No. G 296 07 227, 20.04.1996.
A.W. Koch; O. Toedter:
Vorrichtung und Verfahren zum Messen einer winkelabhängigen Größe.
Patent No. DE 44 27 724, 05.08.1994.
A.W. Koch; M. Langlotz; S. Marlier:
Duales Mikrowelleninterferometer.
Patent No. DE 43 00 949, 26.05.1994.
A.W. Koch; K. Wiesemann:
Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von lokalen Eigenschaften eines teilweise ionisierten gasförmigen Mediums und von Schichtdicken.
Patent No. DE 44 00 689, 12.01.1994.
A.W. Koch:
Vorrichtung zur Temperaturmessung.
Gebrauchsmuster No. G 92 18 626.2, 24.04.1992.
A.W. Koch:
Simultane Modulation und Einkopplung kohärenter Lichtstrahlen in ein Ringinterferometer.
Patent No. DE 41 30 793, 16.09.1991.
A.W. Koch:
Verfahren und Vorrichtung zur Geschwindigkeitsmessung.
Patent No. DE 41 27 528, 20.08.1991.
*A.W. Koch:
Verfahren und Vorrichtung zum Beschichten von Werkstücken durch Plasmaspritzen.
Patent No. DE 40 36 858, 19.11.1990.
*A.W. Koch:
Verfahren und Vorrichtung zur Messung lokaler Schichtdicken und -strukturen.
Patent No. DE 40 36 857, 19.11.1990.
*A.W. Koch:
Verfahren und Vorrichtung zur Laserstrahl-Diagnostik.
Patent No. CH 67 95 24, 04.05.1989.
*A.W. Koch:
Verfahren zur Bestimmung einer lokalen Driftgeschwindigkeitskomponente und Vorrichtung zur Durchführung. des Verfahrens.
Patent No. DE 38 15 214, 05.05.1988.
*) gefördert durch:
Patentstelle für die Deutsche Forschung der Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 80636 München