Form

Um die Form einer technischen Oberfläche mittels Speckle-Interferometrie zu vermessen, werden mindestens zwei Interferogramme (a) mit einem entsprechenden Aufbau aufgenommen, wobei jeweils eine andere Beleuchtungswellenlänge genutzt wird.
Durch den Einsatz passender Algorithmen kann hieraus ein Phasenbild (b) errechnet werden. Ein sogenannter Unwrapping-Algorithmus erzeugt ein Bild (c), in dem jedes Pixel mit Grauwert einer Raumkoordinate zugeordnet und damit das 3D-Profil der technischen Oberfläche dargestellt werden kann. Neben der Objektform können mit dieser Technologie auch Veränderungen an der Oberfläche (z.B. Dehnung, Stauchung, Verschiebung, ...) gemessen werden.

Aktuelle Forschungsziele stellen die Optimierung dieser Technologie hinsichtlich Auflösung und Robustheit sowie die Datenfusion mit auf Speckle-Interferometrie
basierter Rauheitsmessung dar.

Kontakt: Franziska Pöller, M.Sc.